 |
| |
|
|
Badania składu i jakości heterostruktur | | Dysponujemy najnowszej klasy wysokorozdzielczym dyfraktometrem rentgenowskim umożliwiającym szybkie i precyzyjne zbieranie danych o strukturach. Analiza wyników dyfrakcji otrzymanych próbek pozwala na określenie m. in.:
- składu chemicznego warstw epitaksjalnych heterostruktury;
- grubości warstw;
- jakości krystalicznej próbki (np. mozaika, pęknięcia);
- stopnia relaksacji warstwy epitaksjalnej.
Układ wyposażony jest w goniometr wertykalny umożliwiający pomiar kątów z dokładnością do 0,0001º, hybrydowy, czteroodbiciowy monochromator Ge (400), dwuwymiarowy detektor PIXCEL charakteryzujący się dużą dynamiką zliczeń (powyżej 3900x106 zliczeń/s) oraz analizator umożliwiający dużą prędkość skanowania przy jednoczesnym dużym stosunku sygnału do szumu.
Rutynowo przeprowadzane są pomiary krzywej kołysania – skan ω (ang. rocking curve), skan 2θ/ w układzie trójosiowym, reflektometria oraz mapowanie węzłów sieci odwrotnej. Wykonywane są też zdjęcia topograficzne w celu ujawnienia sieci dyslokacji niedopasowania w zrelaksowanych strukturach epitaksjalnych. Dyfraktometr jest wyposażony w oprogramowanie umożliwiające analizę wyników eksperymentalnych.
Obecnie specjalizujemy się w badaniach heterostruktur epitaksjalnych (QCL (AlGaAs/GaAs), supersieci II rodzaju InAs/GaSb, DBR (AlAs/GaAs), MQW (InGaAs/GaAs), AlGaAs).
WYNIK: Raport zawierający wszystkie zmierzone charakterystyki i parametry wraz z krótkich opisem przygotowany przez specjalistę
OGRANICZENIA I WYMAGANIA: Minimalny rozmiar próbki 3 mm x 3 mm.
KONTAKT:Iwona Sankowska isanko@ite.waw.pl, Justyna Kubacka-Traczyk traczyk@ite.waw.pl
Oferuje: Zakład Fotoniki |
|
|
|
| Kwiecień 2024 |
| Pon |
Wto |
Śro |
Czw |
Pią |
Sob |
Nie |
| 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | | 8 | 9 | 10 | 11 | 12 | 13 | 14 | | 15 | 16 | 17 | 18 | 19 | 20 | 21 | | 22 | 23 | 24 | 25 | 26 | 27 | 28 | | 29 | 30 |
|
|
Imieniny: Marek, Jarosław, Wasyl
|
|
|
ZAKŁADY NAUKOWE
|
|
|
|
