STRONA ARCHIWALNA
Instytut Technologii Elektronowej
hbar
Kliknij, aby otrzymac polska wersje językowa Click here for English Language O Instytucie Organizacja i dzialalnosc Projekty Europejskie Fundusze strukturalne Zamowienia_Publiczne Tu znajdziesz numer telefonu i adres poczty elektronicznej osoby, której szukasz Biuletyn Informacji Publicznej ISO 9001
hbar
   
O Instytucie
Informacja_ogolna
Historia Instytutu
Nagrody
Osiagniecia
Oferta
Materiały promocyjne
Biblioteka
Lokalizacja
StrategiaHR




PROJEKTY
Logo Pol-HEMT Logo Pol-HEMT
MNSDIAG InTechFun
Centrum Nanofotoniki
Smart Frame
NANOHEAT Logo
MINTE Logo

ITE jest członkiem:

Badania składu i jakości heterostruktur
Dysponujemy najnowszej klasy wysokorozdzielczym dyfraktometrem rentgenowskim umożliwiającym szybkie i precyzyjne zbieranie danych o strukturach. Analiza wyników dyfrakcji otrzymanych próbek pozwala na określenie m. in.:
  • składu chemicznego warstw epitaksjalnych heterostruktury;
  • grubości warstw;
  • jakości krystalicznej próbki (np. mozaika, pęknięcia);
  • stopnia relaksacji warstwy epitaksjalnej.
Układ wyposażony jest w goniometr wertykalny umożliwiający pomiar kątów z dokładnością do 0,0001º, hybrydowy, czteroodbiciowy monochromator Ge (400), dwuwymiarowy detektor PIXCEL charakteryzujący się dużą dynamiką zliczeń (powyżej 3900x106 zliczeń/s) oraz analizator umożliwiający dużą prędkość skanowania przy jednoczesnym dużym stosunku sygnału do szumu. Rutynowo przeprowadzane są pomiary krzywej kołysania – skan ω (ang. rocking curve), skan 2θ/ w układzie trójosiowym, reflektometria oraz mapowanie węzłów sieci odwrotnej. Wykonywane są też zdjęcia topograficzne w celu ujawnienia sieci dyslokacji niedopasowania w zrelaksowanych strukturach epitaksjalnych. Dyfraktometr jest wyposażony w oprogramowanie umożliwiające analizę wyników eksperymentalnych. Obecnie specjalizujemy się w badaniach heterostruktur epitaksjalnych (QCL (AlGaAs/GaAs), supersieci II rodzaju InAs/GaSb, DBR (AlAs/GaAs), MQW (InGaAs/GaAs), AlGaAs).

WYNIK: Raport zawierający wszystkie zmierzone charakterystyki i parametry wraz z krótkich opisem przygotowany przez specjalistę
OGRANICZENIA I WYMAGANIA: Minimalny rozmiar próbki 3 mm x 3 mm.
KONTAKT:Iwona Sankowska isanko@ite.waw.pl, Justyna Kubacka-Traczyk traczyk@ite.waw.pl

Oferuje: Zakład Fotoniki
Grudzień 2020
Pon Wto Śro Czw Pią Sob Nie
123456
78910111213
14151617181920
21222324252627
28293031
Imieniny: Franciszek, Hilary, Ksawery

ZAKŁADY NAUKOWE
PARTNERZY
LOGO LOGO LOGO LOGO LOGO LOGO